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Cmi900電鍍測厚儀

電鍍層測厚儀CMI900可無損地測量磁性金屬基體（如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等）上非磁性覆蓋層的厚度 （ 如鉻、銅、琺瑯、橡膠、油漆等 ） 及非磁性金屬基體 （ 如銅、鋅、錫等 ） 上非導電覆蓋層的厚度 （ 如 : 琺瑯、橡膠、油漆、塑料等 ） 。本儀器具有測量誤差小、性高、穩定性好、操作簡便等特點，是控制和產品質量必不可少的檢測儀器，廣泛地應用在制造業、金屬加工業、化工業、商檢等檢測領域電鍍層測厚儀CMI900注意事項   A、工作電源要求：CMI900必須工作于穩定工作電壓狀態之下，必須對CMI900配置UPS后備電源，防止突然斷電引起儀器損壞。UPS后備電源功率大約在1000W~2000W之間即可。B、環境要求：CMI900是高科技精密測量儀器，對環境的要求特別高，環境的變化會直接影響測量精度、儀器穩定性、會導致儀器出現性能問題及影響儀器的使用壽命。下面是實驗室環境條件基本要求：□實驗室的標準溫度為20℃,一般檢測間及試驗間的溫度應在20±5℃， 線值計量標準間為20±2℃，電工        與無線電專業的標準間和線值計量的計量檢測儀器間為20±3℃。□實驗室內的相對濕度一般應保持在50－70％。 □實驗室的噪音、防震、防塵、防腐蝕、防磁與屏蔽等方面的環境條件應符合在室內開展的檢定項目的檢測                    儀器設備對環境條件的要求，室內采光應利于檢定工作和計量檢測工作的進行。 □ 實驗室的環境條件出現異常，例如溫度和濕度超過規定范圍且明顯影響檢定或檢測結果時或當環境條件經常出現異常情況，采取適當措施給予解決。我司是牛津儀器總代理商，從事與儀器相關服務已經十多年，擁有技術過硬的技術工程師以及的銷售團隊，可為你解決涵蓋CMI900儀器、CMI700等牛津儀器相關問題，也可以提供最詳細的CMI900、CMI700相關技術資料。 

該公司產品分類： 耗材產品 鋰電檢測設備 PCB檢測儀器

210電鍍測厚儀 鍍層檢測 電鍍膜厚測試儀 鍍層測厚儀 測厚儀

 電鍍測厚儀 鍍層檢測 電鍍膜厚測試儀 鍍層測厚儀 測厚儀

X射線熒光法

    所有金屬材料/非金屬材料上單金屬成分、2元或多元合金材料的單層和多層厚度的測試，同時可以測試鍍層材料的合金成分含量比例。

電鍍測厚儀 鍍層檢測 電鍍膜厚測試儀 鍍層測厚儀 測厚儀產品介紹：

   本著對插接件等細小結構件的單鍍層和多鍍層厚度的測量，Ux-700更專業小樣品測試腔的設計，帶有聚焦光點的準直器，高分辨率的探測系統，眾多最佳條件的選擇，保證測試結果的準確性。

    X射線熒光技術測試鍍層厚度的應用，提高了大批量生產電鍍產品的檢驗條件，無損、快速和更準確的特點，對在電子和半導體工業中品質的提升有了檢驗的保障。

    Ux-210鍍層測厚儀配備了XY軸微移動平臺，可以通過鼠標的點擊操作，選擇樣品的多點測試，特別適應于細小結構多種不同鍍層材料的測試。

    Ux-210鍍層測厚儀具有高清晰、高放大倍數的攝像設備，測試樣品的部位清楚明了，同時攝像設備拍抓測試部位的圖片，和測試數據結果一同出現在測試報告中。

    Ux-210鍍層測厚儀采用了華唯最新專利技術FlexFp -Multi，不在受標準樣品的限制，在無鍍層標樣的情況下直接可以測試樣品的鍍層厚度。

 

電鍍測厚儀 鍍層檢測 電鍍膜厚測試儀 鍍層測厚儀 測厚儀產品指標：

測厚技術：X射線熒光測厚技術

測試樣品種類：金屬鍍層，合金鍍層

測量下限：0.003um

測量上限：30-50um（以材料元素判定）

測量層數：10層

測量用時：30-120秒

探測器類型：Si-PIN電制冷   

探測器分辨率：149eV

高壓范圍：5-50Kv，50W

X光管參數：5-50Kv，50W，側窗類；

光管靶材：Mo靶；

濾光片：專用鍍層濾光片

CCD觀察：260萬像素

微移動范圍：XY15mm

輸入電壓：AC220V，50/60Hz

測試環境：非真空條件

數據通訊：USB2.0模式

準直器：Ø0.5mm

軟件方法：FlexFP-Mult

工作區：開放工作區自定義

樣品腔：70*20mm

整機重量：38kg

 

鍍層測厚方法：

1.磁性涂層測厚法

   使用磁性測厚法可測鐵、鋼導磁金屬上面的所有非導磁金屬和所有非導電層的厚度，如鐵上鍍銅、鋅、鉻、金、銀等，涂的油漆、塑料、橡膠、磷化膜、玻璃鋼等。

2.渦流層層測厚法

   可以測量非導磁導電金屬上面非導電涂層的厚度，如不銹鋼、銅、鋁金屬上的油漆層、氧化膜、磷化膜、玻璃鋼、橡膠等圖層的厚度

3.X射線熒光法

   所有金屬材料/非金屬材料上單金屬成分、2元或多元合金材料的單層和多層厚度的測試，同時可以測試鍍層材料的合金成分含量比例。

 

電鍍測厚儀 鍍層檢測 電鍍膜厚測試儀 鍍層測厚儀 測厚儀常用單位：

微米（um），微英寸（u‘’）俗語“邁”，密耳（mil）

1um=39.4邁，  1um=0.04mil

該公司產品分類： 電鍍測厚儀 金屬成份分析儀 鍍層測厚儀 合金分析儀 ROHS檢測儀、鹵素檢測儀 影像設備 環境實驗檢測設備 X謝線儀

上海江蘇金屬電鍍測厚儀Thick800A

 
上海江蘇金屬電鍍測厚儀Thick800A性能優勢
 
滿足各種不同厚度樣品以及不規則表面樣品的測試需求
最小φ0.1mm的小孔準直器可以滿足微小測試點的需求
高精度移動平臺可精確定位測試點，重復定位精度小于0.005mm
采用高度定位激光，可自動定位測試高度
定位激光確定定位光斑，確保測試點與光斑對齊
鼠標可控制移動平臺，鼠標點擊的位置就是被測點
高分辨率探頭使分析結果更加
良好的射線屏蔽作用
測試口高度敏感性傳感器保護
 
上海江蘇金屬電鍍測厚儀Thick800A技術指標
 
元素分析范圍從硫（S）到鈾（U）中間的任意金屬鍍層 
一次可同時分析多達五層鍍層
最薄可測試0.005μm
分析含量一般為2ppm到99.9% 
鍍層厚度一般在50μm以內（每種材料有所不同）
任意多個可選擇的分析和識別模型
相互獨立的基體效應校正模型
多變量非線性回收程序
工作穩定性高
度適應范圍為15℃至30℃
電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩壓電源
尺寸：576（W） x 495 （D） x 545（H） mm
重量：90 kg
 
上海江蘇金屬電鍍測厚儀Thick800A測試實例
 
鍍鎳器件是比較常見的電鍍器件，其鎳鍍層在保護銅基體免受氧化同時還能起到美觀的作用。這里以測試客戶的一件銅鍍鎳樣品為例說明此款設備的的測試效果。
以下使用Thick800A儀器對銅鍍鎳樣品實際測試Ni層厚度，七次的結果其標準偏差和相對標準偏差。且可在樣品上進行精確定位測試，其測試位置如圖。
該公司產品分類： 物流 合金牌號分析儀 糧食重金屬檢測儀 食品安全 錫合金成分分析儀 銅合金成分分析儀 不銹鋼牌號分析儀 合金成分分析儀 煙氣重金屬在線監測儀 大氣重金屬在線監測儀 煙氣揮發性有機物VOC在線監測儀 大氣揮發性有機物VOC在線監測儀 大氣在線監測 氣質聯用儀GC-MS系列 電感耦合等離子體發射光譜質譜聯用儀ICP-MS 水泥建材行業檢測儀 電感耦合等離子體發射光譜儀ICP 原子熒光AFS系列 原子吸收AAS 氣相色譜儀GC-5400

電鍍測厚儀,鍍層測厚儀,電鍍膜厚儀,韓國測厚儀

詳細資料請致電：1 3761400826XRF2000鍍層測厚儀檢測電子電鍍,化學鍍層厚度,如鍍金,鍍鎳,鍍銅,鍍鉻,鎳鋅,鍍銀,鍍鈀...可測單層,雙層,多層,合金鍍層,測量范圍:0.04-35um測量精度:±5%,測量時間只需30秒便可準確知道鍍層厚度全自動臺面,操作非常方便簡單XRF2000鍍層測厚儀,提供金屬鍍層厚度的測量，同時可對電鍍液進行分析，不單性能優越,而且價錢超值同比其他牌子相同配置的機器，XRF2000為您大大節省成本。只需數秒鐘,便能非破壞性地得到準確的測量結果甚至是多層鍍層的樣品也一樣能勝任。全自動XYZ樣品臺，鐳射自動對焦系統，十字線自動調整。超大/開放式的樣品臺，可測量較大的產品。是線路板、五金電鍍、首飾、端子等行業的首選。可測量各類金屬層、合金層厚度等。可測元素范圍：鈦（Ti） – 鈾（U）  原子序 22 – 92 準直器：固定種類大小:可選圓形0.1  0.2  0.3  0.4mm  方型1×0.4mm自動種類大小:可選圓形0.1  0.2  0.3  0.4mm  方型0.05×0.4mm電腦系統：DELL品牌電腦,17寸液晶顯示器，惠普彩色打印機綜合性能:鍍層分析  定性分析  定量分析  鍍液分析 統計功能

該公司產品分類： 共立水質測試包 孔銅測厚儀 X光測厚儀 其他檢測設備 其他檢測設備 其他 自動添加控制器 電鍍生產線自動添加設備 測厚儀

塑膠電鍍測厚儀，德國膜厚儀,二手膜厚儀

 

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韓國進口鍍層測厚儀韓國膜厚儀韓國進口金屬鍍層測厚儀
德國膜厚儀,二手膜厚儀,深圳膜厚儀,東莞膜厚儀,美國膜厚儀,美國鍍層測厚儀.美國測厚儀,CMI測厚儀,CMI膜厚儀,FISHER測厚儀,德國FISHER膜厚儀,X光測厚儀,X-RAY膜厚儀
二手膜厚儀,二手測厚儀,二手鍍層測厚儀,二手進口測厚儀
 
Micro Pioneer XRF-2000 系列熒光金屬鍍層測厚儀能提供金屬鍍層厚度的測量,同時可對電鍍液進行分析,不單性能,而且價錢超值.只需數秒鐘,便能非破壞性地得到的測量結果,甚至是多層鍍層的樣品也一樣能勝任.全自動XYZ樣品臺,鐳射自動對焦系統,十字線自動調整.超大/開放式的樣品臺,可測量較大的產品.是線路板,五金電鍍,首飾,端子等行業的.可測量各類金屬層、合金層厚度.
可測元素范圍：
鈦(Ti) – 鈾(U)
可測量厚度范圍：
原子序22-25，0.1-0.8μm
26-40，0.05-35μm
43-52，0.1-100μm
72-82，0.05-5μm
X-射線管：油冷,超微細對焦
高壓：0-50KV(程控)
準直器：
固定種類大小:可選0.1,0.2,0.3,0.4,1X0.4mm
自動種類大小:可選0.1,0.2,0.3,0.4,0.05X0.4mm
電腦系統：IBM相容,17”顯示器
 
綜合性能:鍍層分析 定性分析 定量分析 鍍液分析
鍍層分析:可分析單層鍍層,雙層鍍層,三層鍍層, 合金鍍層.
鍍液分析:可分析鍍液的主成份濃度(如鍍鎳藥水的鎳離子濃度,鍍銅藥水的銅離子濃度等),簡單的核對方式,無需購買標準藥液.
定性定量分析:可定性分析20多種金屬元素,并可定量分析成分含量.
光譜對比功能:可將樣品的光譜和標準件的光譜進行對比,可確定樣品與標準件的差別,從而控制來料的純度.
統計功能:能夠將測量結果進行系統分析統計,方便的控制品質.
該公司產品分類： 日本笠原 微生物菌類測試管 水質快速檢測試紙 水質中離子含量測試紙 共立WAK水質試劑盒 鍍層測厚儀 MICROPioneer測厚儀 MicopXRF-2020測厚儀 德國羅威邦水質分析儀 共立理化學研究所 水質重金屬離子檢測 RO-103微量氧氣分析儀 韓國微先鋒XRF-2020測厚儀 XRF-2000測厚儀標準片 X-RAY膜厚儀 X射線鍍層測厚儀 水質分析儀/多參數水質分析儀

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