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螢光X-Ray膜厚儀

熒光X-Ray膜厚儀

螢光X-Ray膜厚儀說明:1. 測量主機精巧,不占空間2. 厚度測量極限:0.001um3. 可測試單層膜厚、多層膜厚、化學鎳層膜厚、錫鉛合金層膜厚及組成比、元素分析4. 準直器最小孔徑僅0.05φmm,可測量微小部品5. 采用中文窗口軟件,測定報告的擷取,非常簡便

數顯膜厚儀

數顯膜厚儀 技術參數:

執行標準:GB/T1764-79       GB/T134522-92       ISO2808-74 測量范圍:0-200μm 測量精度:+/-(0.7μm+3%H) *H為標準厚度 

數顯膜厚儀 詳細介紹:

用途:測定鐵磁性材料表面上非磁性涂鍍層的厚度 試驗技術特征:專用于鐵磁性材料表面上非磁性涂鍍層厚度測定;機內備有充電電池便于涂裝施工現場應用

900L系列膜厚儀,膜厚計

型號:LE-900J                            型號:LE-300J                             型號:LE-200J 特點:經濟型膜厚計, 一體化探頭設計.      特點:穩定性高,重復性好.                   特點:精度高,內置打印機. 測量范圍:0-1500um                     測量范圍:0-1500um                       測量范圍:0-150 型號: TT220                           型號:TT240                         型號:TT260   測量范圍:0-1250um                    測量范圍:0-1250um              測量范圍:0-1250um               測量精度:±(3%H+1)um                測量精度:±(3%H+1)um         測量精度:±(3%H+1)um    存貯功能:可存貯15個測量值           型號貯功能:可存貯300個測量值   型號存貯功能:可存貯495 特點:經濟型膜厚計, 探頭機身一體化.    特點:精度高,功能齊備,可配打印機.  特點:精度高,功能齊備內置打印機.         

CMI 243膜厚儀

●ECP-M探頭:鋅、鎳均可以測量

●度:±1%

●測量范圍:0.08-1.50mils(2-38μm)

●分辨率:0.01mils (0.1μm)

●適用標準:符合ASTM B244—b259, DIN 50984,ISO 2360,ISO 29168(DRAFT), 以及BS 5411 part 3

●單位:英制和公制單位自動轉換

●統計數據顯示:讀取次數,平均值,標準差,值,值,最終值

●記憶儲存:12,400個數據儲存

●接口:RS-232串行端口,波特率可調,可接打印機或計算機

●顯示:液晶顯示(LCD),字符高度1/2” (1.27cm)

●電池:9V干電池或可充電電池。

●尺寸:57/8” (L) ×31/8” (W)×13/16” (D) (14.9×7.94×3.02 cm)

●重量:9盎司/0.26kg, (包括電池重量在內)

●品牌及產地:英國牛津儀器;產地:美國

牛津儀器常駐中國機構提供售后服務和技術支持

涂層測厚儀Surfix easy FN膜厚儀

德國涂層測厚儀Surfix easy FN膜厚儀

世界上進的無損測厚“手機”(德國測厚儀Surfix)

  • 用測厚儀Surfix精確無損測量鋼鐵及有色金屬上的涂層厚度,使用方便、操作簡單、測量精確。可選型號:
  • Surfix  (B/P)FN 型適合測量金屬基體上的涂鍍層氧化膜等。 
  • Surfix F 型適合鋼鐵基體上的涂鍍層厚度測量。 
  • Surfix N 型適合有色金屬材上的膜厚測量 
  • Surfix easy FN  型適合測量所有金屬基體上的涂層。
  • Surfix easy F  型適合測量鋼鐵基體上的涂層。

德國涂層測厚儀Surfix BFN膜厚儀標準配置:

  • 主機及指定型號的探頭
  • 零板-----------------
  • 標準箔兩個-----------
  • 電池兩節-------------
  • 便攜軟包-------------
  • 操作手冊-------------

    可選配置:

  • PC計算機用的紅外線接收器
  • 便攜式打印機(帶紅外接收器 RS232接口)
  • 不同厚度的標準箔
德國涂層測厚儀Surfix BFN膜厚儀技術參數:
  測量范圍0--1500µm
  誤差1µm+3%的讀數
  分辨率1µm或小于讀數的2%
  顯示背景照明,四位讀數顯示,兩行統計數字顯示,英文操作指南
  基體最小面積5mm*5mm
  基體最小曲率凸面:3mm 凹面:50mm
  基體最小厚度F型:0.5mm,N型50µm
  校準廠家校準,零校準,校準箔校準
  數據統計讀數個數(最多9999個),平均值,標準偏差。最大值和最小值
  數據存儲最多80個讀數值及9999個讀數的統計數字
  極限值上下限可調,聲音報警
  數據接口紅外通訊
  環境溫度/表面溫度0--50°C/150°C
  電源

兩節1.5伏五號電池

  儀器尺寸140mm*62mm*30mm
  探頭尺寸U14mm83mm
  重量200g主機及探頭
  保護級別IP52(防灰塵,防漏水)
  符合標準DIN,ISO,ASTM,BS

 

PosiTector 200 膜厚儀

PosiTector 200 膜厚儀-美國狄夫斯高(DeFelsko)的詳細介紹
美國狄夫斯高 (DeFelsko) 檢測儀器--PosiTector 200型測厚儀 功能簡介:
PosiTector 200型漆膜測厚儀 用于測量木材、混凝土、塑料等基材上涂層厚度。
PosiTector 200型膜厚儀型:最多測量3層并帶有圖形顯示
PosiTector 200型漆膜測厚儀應用成熟的超聲波技術在許多行業無損測量涂層厚度,如混凝土、木材、復合材料等
價格低廉
使用簡單
非破壞性
PosiTector 200 漆膜測厚儀使用簡單,價格低廉而且是非破壞性?捎糜跍y量木材,混凝土及其它基材上涂層厚度。
簡單
直接測量,測量大多數涂層時無需調校
菜單操作
雙色指示燈,適于嘈雜環境
重置功能可以即時恢復出廠設置
耐用
耐溶劑、酸、油、水和灰塵,防護等級滿足或超出IP5X
顯示屏耐劃傷/溶劑,適用于惡劣環境
防震保護橡膠皮套,帶皮帶夾
主機與探頭兩年保修
精確
靈敏傳感器,使測量迅速且(最多40個讀數/分鐘)
成熟的無損超聲波技術,符合ASTM D6132與ISO 2808標準
校準證書可追溯NIST
多種功能
連續顯示/更新平均值、標準偏差和測量次數
內部存儲最多10000個數據,最多可分1000組
內置時鐘可對存儲的結果標注時間、日期
輸出提供USB、紅外和串行接口,可與打印機和電腦進行簡單通訊
背光顯示,可用于陰暗環境
英制/公制兩種單位,可相互轉換
多種顯示語文選擇
可選配件
- 標準片——符合 ISO 和其它質量標準
- PosiSoft 分析軟件:
可以輸入注釋
可以打印和顯示基本的數據分布圖和直方圖
可以輸出到一個文件或試算表中
提供連接打印機和計算機的數據線
紅外打印機 - 使用電池和紅外線接收數據
PosiTector 200型涂層測厚儀整套包括
耐用的攜帶,3節AAA電池、說明書、具有NIST可追朔性的校準證書,保修一年。
1. 閱讀容易,防劃花,液晶顯示
2. 指示燈在噪音環境中,方便確認讀數
3. 紅外線接口用于無線打印
4. RS232 接口用于下載
5. 堅固外殼,耐溶劑、酸、油、水和灰塵
6. 壓力恒定,探頭測量面為塑料,不會劃傷測量面
7. 舒適把手,減少操作人員的疲勞
8. 柔軟連接線
PosiTector 200型涂層測厚儀 技術參數
    B/標準 B/ C/標準 C/
    13-1000um 0.5-40mils   25-1000um
分 辨 率     0.1mils 2um
        ± 0.1mils + 3% 讀數 ± 2um +3% 讀數
測量速度      45 讀數 / 分鐘
    146 x 64 x 31mm
    105g(不含電池)

PosiTector 200PosiTector 200 膜厚儀-美國狄夫斯高

PosiTector 200 膜厚儀-美國狄夫斯高(DeFelsko)的詳細介紹
美國狄夫斯高 (DeFelsko) 檢測儀器--PosiTector 200型測厚儀 功能簡介:
PosiTector 200型漆膜測厚儀 用于測量木材、混凝土、塑料等基材上涂層厚度。
PosiTector 200型膜厚儀型:最多測量3層并帶有圖形顯示
PosiTector 200型漆膜測厚儀應用成熟的超聲波技術在許多行業無損測量涂層厚度,如混凝土、木材、復合材料等
價格低廉
使用簡單
非破壞性
PosiTector 200 漆膜測厚儀使用簡單,價格低廉而且是非破壞性?捎糜跍y量木材,混凝土及其它基材上涂層厚度。
簡單
直接測量,測量大多數涂層時無需調校
菜單操作
雙色指示燈,適于嘈雜環境
重置功能可以即時恢復出廠設置
耐用
耐溶劑、酸、油、水和灰塵,防護等級滿足或超出IP5X
顯示屏耐劃傷/溶劑,適用于惡劣環境
防震保護橡膠皮套,帶皮帶夾
主機與探頭兩年保修
精確
靈敏傳感器,使測量迅速且(最多40個讀數/分鐘)
成熟的無損超聲波技術,符合ASTM D6132與ISO 2808標準
校準證書可追溯NIST
多種功能
連續顯示/更新平均值、標準偏差和測量次數
內部存儲最多10000個數據,最多可分1000組
內置時鐘可對存儲的結果標注時間、日期
輸出提供USB、紅外和串行接口,可與打印機和電腦進行簡單通訊
背光顯示,可用于陰暗環境
英制/公制兩種單位,可相互轉換
多種顯示語文選擇
可選配件
- 標準片——符合 ISO 和其它質量標準
- PosiSoft 分析軟件:
可以輸入注釋
可以打印和顯示基本的數據分布圖和直方圖
可以輸出到一個文件或試算表中
提供連接打印機和計算機的數據線
紅外打印機 - 使用電池和紅外線接收數據
PosiTector 200型涂層測厚儀整套包括
耐用的攜帶,3節AAA電池、說明書、具有NIST可追朔性的校準證書,保修一年。
1. 閱讀容易,防劃花,液晶顯示
2. 指示燈在噪音環境中,方便確認讀數
3. 紅外線接口用于無線打印
4. RS232 接口用于下載
5. 堅固外殼,耐溶劑、酸、油、水和灰塵
6. 壓力恒定,探頭測量面為塑料,不會劃傷測量面
7. 舒適把手,減少操作人員的疲勞
8. 柔軟連接線
PosiTector 200型涂層測厚儀 技術參數
   
B/標準
B/
C/標準
C/
   
13-1000um
0.5-40mils
 
25-1000um
分 辨 率
 
 
0.1mils
2um
   
 
 
± 0.1mils + 3% 讀數
± 2um +3% 讀數
測量速度
 
 
45 讀數 / 分鐘
   
146 x 64 x 31mm
   
105g(不含電池)

 

XRF-2000X射線測厚儀 鍍層測厚儀 測金機 膜厚儀

 

XRF-2000 X射線測厚儀 鍍層測厚儀 測金機 膜厚儀
X-射線鍍層測厚儀的特征:
1.可測量電鍍、蒸鍍、離子鍍等各種金屬鍍層的厚度。
2.可通過CCD攝像機來觀察及選擇微小面積以進行鍍層厚度的測量,避免直接接觸或破壞被測物。
3.備有250個以上的鍍層厚度測量和成分分析時所需的標準樣品。
 
一.韓國Micro Pioneer XRF-2000 系列X射線測厚儀(原裝進口)
XRF2000能提供金屬鍍層厚度的測量,同時可對電鍍液進行分析,不單性能,而且價錢超值,同比其他牌子相同配置的機器,XRF2000為您大大節省成本。只需數秒鐘,便能非破壞性地得到的測量結果,甚至是多層鍍層的樣品也一樣能勝任。全自動XYZ樣品臺,鐳射自動對焦系統,十字線自動調整。超大/開放式的樣品臺,可測量較大的產品。是線路板、五金電鍍、首飾、端子等行業的。可測量各類金屬層、合金層厚度等。
可測元素范圍:鈦(Ti) – 鈾(U) 原子序 22 – 92 。
準直器:固定種類大小:可選圓形0.1 0.2 0.3 0.4mm 方型1×0.4mm
自動種類大小:可選圓形0.1 0.2 0.3 0.4mm 方型0.05×0.4mm
電腦系統:DELL品牌電腦,17寸液晶顯示器,惠普彩色打印機
綜合性能:鍍層分析 定性分析 定量分析 鍍液分析 統計功能
 
二.美國Thermo 第二代X射線熒光測量儀器(型測厚儀)
實現了快速、精密、的X-射線測量儀器。
MicronX可以同時測量多至6層的金屬鍍層的厚度和成分,測量厚度可以從埃(?)至微米(μm),它也能測量多至20個元素的塊狀合金成分。其度、精密度和穩定性是的。
世界首創光學準直器0.025mm;集中X-射線光束,強度加強5-8;適合較薄鍍層測量,測量時間為正常的1/5;配有ZOOM功能,圖象可放大至200倍;更新FP方法,適合多層厚度測量。,光束最少可達
ZXR/LXR系統:用于小樣品的經濟型。機械準直器,氣體正比探測器。
GXR系統:斑點小,樣品量大。GXR能精確測量小至25μm的Sn、Pd和Ag層及小至35μm的Au和Ni層。應用于微電子器件、數據偶合器、光通訊和數據貯存等。
VXR系統:真空測量環境(真空導管技術專利),增加靈敏度和測定范圍(Al-U。VXR利用真空技術和尖端的焦耳—湯母遜制冷半導體探測器(140eV,FWHM)。
MXR系統:高性能、高精密、高分辨。利用光學準直器透過元件發出超強的40μm光束,將得到100—1000倍于相同大小光束的機械準直器X-射線熒光的精度。電制冷半導體探測器提供增強的靈敏度和分辨率(220eV,FWHM)。最適合用于半導體、光通訊、微電子、光子學、無源器件和薄層磁頭金屬化分析。
 
三.供應二手金屬鍍層X射線測厚儀
適用于五金、電鍍、精品首飾、電子、手表、電路板等鍍層測量,如鍍金、銀、鎳等微小部位的高精度測量。
二手測厚儀還可以低價出租,租費實惠,按年計算。可以提供美國VEECO、美國熱電、韓國XRF2000及日本精工X射線鍍層測厚儀的維修和保養服務。供應以下二手設備:
1.美國VEECO X-射線鍍層厚度測量儀 型號XRF-4000  XRF-5000
2.日本精工X-射線鍍層厚度測量儀 型號SFT-157  SFT-3000  SFT-7000  SFT-9000等
   
四.貴重金屬珠寶測量儀(X射線原理)
快速、非破壞性和高精度的貴金屬珠寶成品測量儀,可直接得出開金(Karat)值。短期內便能賺回成本的聰明投資。無論你的業務是批發、零售、制造或是提煉回收,都能幫您省回時間和金錢。
 
十多年來,我們一直服務于PCB 廠商、電鍍行業、科研機構、半導體生產、微電子、光電子、光通訊等電子行業。我們提供高質量的產品和質的服務都得到顧客的獎勵,在未來,我們將繼續履行顧客的期望、要求和需要,愿我們成為真誠的合作伙伴、共同描繪雙方的發展藍圖!

面議放置型膜厚儀

放置型膜厚儀

放置型膜厚儀適用于沒有磁引力的UV涂層和一些金屬表面的非UV的涂層(如涂料,瓷釉,塑膠,鍍鋅層,金屬表面的氧化層等等)。

BD-D5-25型的測量范圍為0-0.08英寸;;公差為+/-0.0002英寸,最大公差0.004英寸;典型運用為涂料,瓷釉,塑膠,熱鍍鋅層,金屬表面的硬化層。

BD-D5-26型的測量范圍為0-0.008英寸;公差為+/-0.00004英寸,最大公差0.0008英寸;典型運用為涂料薄膜,電鍍層和磷化層。

特殊測量范圍可以定做

QUANIX4500德國尼克斯涂鍍層測厚儀4500,膜厚儀,漆膜儀,測膜儀

詳細信息:產品名稱: 德國尼克斯涂鍍層測厚儀 規格型號: QuaNix4500 產品類別: 涂鍍層測厚儀 產品描述: QuaNix4500 涂鍍層測厚儀 型號:QuaNix4500 產地:德國1.測量鋼鐵等磁性金屬基體上的非磁性涂層、鍍層、氧化層,如油漆、粉末、塑料、橡膠、鋅、鉻、鋁、錫等;2.測量鋁、銅、鋅、不銹鋼等非磁性金屬基體上的絕緣涂鍍層,如油漆、瓷、塑料、琺瑯氧化層等。詳細描述:磁性/非磁性金屬基體:用于4500測量范圍: 0-2000um測量精度: 0-50um≤±1um,50-1000um≤±1.5/100,1000-2000um≤±2/100,2000-5000um≤±3/100.最小測量面積: 10x10mm最小曲率: 凸半徑 5mm凹半徑 25mm最小基材厚度:鐵0.2mm 非鐵0.05mm溫度范圍: 0-60度顯示: LCD供電形式: 2個1.5V電池體積: 100X60X27mm重量: 約110克

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