| 小負荷顯微維氏硬度計 型號:M274082 | |
| 主要特點: 特別適合于測定金屬薄小零件、脆性材料、表面淡化及滲碳、經過熱處理的零部件的顯微硬度檢測。 裝有兩個物鏡，裝有二路照明通道；供測定（40X）和觀察（100X）使用，通過轉臺定位系統，可以精確地確定壓痕位置。 主要技術規格： 試驗力： 牛頓（N） 0.098 0.246 0.49 0.98 1.96 2.94 4.90 9.80 克力（gf） 10 25 50 100 200 300 500 1000 測量范圍：5-2500HV 加荷機構：自動加卸試驗力 顯微鏡倍率：測量用400X（物鏡40X，目鏡10X） 觀察用100X（物鏡10X，目鏡10X） 試驗力保持時間：5~60sec 測量顯微鏡：最大測量長度150μm 最小分度值0.0625μm(HVS-1000),0.5μm(HV-1000) 試件允許最大高度：65mm 壓頭中心至機壁距離：85mm 微動載物臺:100＊100mm/XY=25mm/0.01mm 輸出:打印機（HVS-1000） 攝像裝置：CCD（選配） 電源：交流220伏，50Hz（AC100V） 外形尺寸：W290 x D405x M480毫米 重量：約25千克 需與下列儀器配套使用： SSF16-22鑲嵌機 ￥3150.00 10% SSF16-MP-1磨拋機 ￥5920.00 10% 如果被測物品特別小的話寄樣品先試一試。 |
401MVD™顯微維氏硬度計
| 顯微維氏標尺 | HV0.01, HV0.025, HV0.05, HV0.1, HV0.3, HV0.5, HV1 |
| 轉換標尺 | 洛氏、布氏 |
| 顯示 | 5位數的硬度值，4位數的對角線長度（D1,D2），GO/NG設定值， 試驗力，保持時間，測試次數，平均值、標準偏差，回歸 |
| 試驗力 | 10-25-50-100-200-300-500-1000gf |
| 精度 | 符合EN-ISO 6507和ASTM E384 |
| 加卸載控制 | 全自動（加載/保持/卸載） |
| 試驗力保持時間 | 5 ~ 60秒（1秒為增量） |
| 試驗力選擇 | 外置式選力旋鈕 |
| 物鏡放大倍數 | 10×，40× |
| 光通道 | 雙光通道（目鏡及CCD攝像通道） |
| 測量目鏡 | 自動數字式編碼器 |
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| 總放大倍數 | 100×（觀察），400×（測量） |
| 測量范圍 | 200μm |
| 分辨率 | 0.01μm |
| XY試臺 尺寸 | 100×100mm |
| 行程范圍 | 25×25mm |
| 最小讀數 | 0.01mm |
| 試件 最大高度 | 85mm（2.55"） |
| 最大寬度 | 120mm（3.35"）（從壓頭中心線起至機壁距離） |
| 輸出 | 內置打印機（硬度值和統計數據），RS232串行接口 |
| 光源 | 鹵素燈 |
| 電源 | 110-220V 50Hz |
| 尺寸 | 513×320×470mm |
| 重量 | 36kg |
SBWR4280/420D隔爆型，本安型熱電偶電阻，溫度變送器，SBWR-4280/420D， 隔爆型 本安型熱電偶電阻 溫度變送器 SBWR-4280/420D SBWR2180/240I隔爆型，本安型熱電偶電阻，溫度變送器，SBWR-2180/240I， 隔爆型 本安型熱電偶電阻 溫度變送器 SBWR-2180/240I SBWR218/240D隔爆型，本安型帶熱電偶電阻，溫度變送器，SBWR-218/240D， 隔爆型 本安型帶熱電偶電阻 溫度變送器 SBWR-218/240D SBWR4180/240D隔爆型，本安型帶熱電偶溫度變送器，SBWR-4180/240D， 隔爆型 本安型帶熱電偶溫度變送器 SBWR4280/240I隔爆型，本安型熱電偶電阻，溫度變送器，SBWR-4280/240I， 隔爆型 本安型熱電偶電阻 溫度變送器 SBWR-4280/240I SBWR2280/440D隔爆型，本安型帶熱電偶電阻溫度變送器，SBWR-2280/440D， 隔爆型 本安型帶熱電偶電阻溫度變送器 SBWR-2280/440D WZP203S鉑熱電阻元件,WZP-203S 鉑熱電阻元件 WZP-203S 鉑熱電阻元件 WZP-203S 鉑熱電阻元件 WZP-203S WZPM2012鉑熱電阻元件,WZPM-2012 鉑熱電阻元件 WZPM-2012 鉑熱電阻元件 WZPM-2012 鉑熱電阻元件 WZPM-2012 WRE520直角彎頭熱電偶|WRE-520 直角彎頭熱電偶|WRE-520 直角彎頭熱電偶|WRE-520
| 無主軸摩擦，精密讀數測微計 | |
| 主要特點： | 應用范圍： |
| ·無摩擦主軸結構，試驗精度高 | ·滲碳層、陶瓷、鋼、有色金屬 |
| ·高精度光學測量系統，精密坐標試臺 | ·薄板、金屬薄片、電鍍層、微小試件 |
| ·試驗過程自動化，操作簡單，無人為操作誤差 | ·氮化層、滲碳層和淬火硬化層梯度測量 |
| ·可選配CCD攝像裝置及圖像處理系統 | ·適用于平行平面和微小零件及超薄零件的精密維氏硬度測量 |
| ·可選配努氏壓頭進行努氏硬度試驗 | |
| ·精度符合GB/T4340.2 ISO6507-2 和美國ASTM E384 | |
| 主要技術規格： | 標準配備： |
| ·測量范圍：5-3000HV | ·座標試臺：1個,細軸試臺：1個,薄片試臺：1個 |
| ·試驗力：0.09807、0.2452、0.4904、0.9807、1.961、2.942、4.904、9.807N（10、25、50、100、200、300、500、1000gf） | ·大V型塊：1個，小V形塊：1個 |
| ·試樣允許最大高度：90mm | ·金剛石角錐壓頭：1只 |
| ·壓頭中心至機壁距離：120mm | ·標準維氏硬度塊：2塊，標準顯微硬度塊：1塊 |
| ·最小檢測單位：0.25μm | |
| ·測量系統放大倍率：400X,100X | |
| ·外形尺寸：530*290*490mm | |
| ·電源：AC220V,50/60Hz | |
| ·重量：40kg | |