單位的一個關鍵部件是偏移調整鏡頭系統,這是位于之間的半反射鏡和主雙色鏡,并的示意圖中概述。由于其定位,抵消鏡頭系統是共享的狹縫照明和線圖像形成的。偏移的系統運行與電子反饋回路,光學顯微鏡控制顯微鏡軸向位置,從而使系統能夠創建獨立的標本和玻璃 - 水界面焦平面轉向***狹縫圖像的焦點位置。試樣的平面圖像探測器或目鏡和狹縫圖像是通北京金相顯微鏡顯微鏡過兩個獨立的光學系統的線探測器。選擇是分離光譜的熒光基團,體視顯微鏡顯微鏡價格上海顯微鏡是一個很好的機制以減少串擾。然而,體視顯微鏡在大多數情況下,增加光譜分離也減少了重疊積分這在實踐中通常被轉化為能力下降,檢測的FRET信號。
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“aigo”GE7-SW系列生物數碼顯微鏡是顯微鏡的一次革新,突破了顯微鏡功能的極限,開創了顯微技術的新紀元!通過對顯微鏡光路的設計的改進,植入 CMOS 傳感器,通過USB2.0直接將數字信號傳輸到電腦,通過顯示器真實的再現圖像。數碼技術在顯微鏡中的應用,使顯微鏡的應用更加廣泛。配套的圖像采集軟件、測量軟件操作簡便、功能強大,并提供SDK開發包。
GE7-SW系列生物數碼顯微鏡技術規格技術規格 | GE7-SW1301/3001 | GE7-SW1302/3002 | |
電子目鏡 | 30 度鉸鏈式三目頭 130 萬像素 CMOS 數碼單目頭/300 萬像素 CMOS 數碼單目頭 | 30 度鉸鏈式三目頭 130 萬像素 CMOS 數碼單目頭/300 萬像素 CMOS 數碼單目頭 | |
光瞳間距 | 55mm -75mm | ||
目鏡 | WF10X/ 18mm | ||
物鏡 | 消色差物鏡 : 4X,10X,40X(S),100X(S)Oil | 無限遠物鏡 : 4X 10X 40X (S) 100X (S)Oil | |
平臺 | 雙層移動平臺 | ||
平臺尺寸:125mm×130mm | 平臺尺寸:180mm×150mm | ||
移動范圍:75mm×50mm | |||
聚光鏡 | N. A.1.25 阿貝聚光鏡帶可變光欄和濾色片 | ||
調焦 | 粗、微動同軸調焦,采用齒輪齒條傳動機構,微動格值 0.002mm | ||
集光鏡 | 高亮度固定式照明 | 高亮度柯勒照明 | |
光源 | 鹵素燈 6V/20W.AC 85V-230V | 鹵素燈 12V/20W.AC 85V-230V | |
亮度可調節 | |||
圖像采集軟件 | 預覽、拍照、錄像 | ||
測量軟件(選配) | 只支持130萬標準配置,長度、圓徑、角度、面積等測量 | ||
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日本Hitachi在電子顯微鏡領域一向以引領技術潮流著稱:1972年發布全球第一臺場透射電子微鏡,經過30多年的發展,日立開發、應用了大量的新技術,例如電子槍多重偏壓、浸沒式(In-lens)、半浸沒式(Semi In-lens)物鏡、E x B式探測器,電子減速功能等等。推出了一系列性能優異、應用廣泛的新型號電鏡,受到了用戶的一致好評。Hitachi公司除在日本有自己的研法制造中心外,在北美和歐洲也擁有研究開發中心,在全球六十多個國家經營銷售、技術支持和提供維修服務。 Hitachi公司將納米尺度呈獻給研究人員和生產廠商。 在成功推出S-3000系列后,推出新型S-3400N型鎢燈絲SEM,它集成了Hitachi多年開發的新技術,例如新型電子槍、大錐角物鏡、5分割半導體式背散射探頭、物鏡光闌自動合軸等等,極大地提高設備的性能和應用擴展能力、使操作和維護更加簡易。 S-4800屬于場發射SEM,它集成S-4700和S-5200型的優點,采用新型E x B式探測器和電子束減速功能提高了圖像質量,特別是低電壓的圖像分辨率;新型的透鏡系統,提供了高分辨模式、高束流模式、大工作距離模式、磁性樣品模式等多種工作模式。 作為掃描電鏡配套的能譜分析儀器,我們供應日本Horiba公司或美國EDAX公司的產品。 S-4800場發射SEM系統: 1. 分辨率:二次電子(SE)成像:高真空模式:1.0 nm (15KV)、1.4~2.0 nm (1KV)2. 放大倍率:低倍模式20 ~2,000倍;高倍模式100 ~800,800倍 3. 電子槍:冷陰極場發射電子源,束流1pA–2nA;加速電壓:0.5~30 kV;3級電磁透射會聚系統 4. 樣品室可容納樣品左右直徑200 mm,同心樣品臺,四軸自動,可安裝EDS、冷卻臺附件 5. 移動最大范圍:X = 110 mm /Y = 110 mm /Z =1.5~40.0mm /R=360°;傾斜T:范圍不小于-5°~70°(手動) 6. 探測器:二次電子檢測器、固體背散射電子檢測器;樣品室 IR-CCD 相機 7. 圖像掃描:不低于5120×3840像素;圖像顯示1280×960像素
參數規格為去除SEM & TEM樣品的碳氫污染而設計。特有的雙清洗模式(immersion和downstream)能夠處理各種不同的樣品,從嚴重污染的電子光學孔徑光闌到各種脆弱易損樣品,如石墨烯、碳納米管、類金剛石碳膜以及多孔碳支持膜銅網上的TEM樣品。石英樣品托板上的孔洞可以安裝標準SEM樣品托。特別設計的適配器可以清潔不同廠家的TEM樣品桿。可用于煤的灰化。
特點:
1. 系統具有雙等離子源。浸入式等離子源用于主動表面處理、光刻膠蝕刻。遠程式等離子源用于溫和的污染清除以及脆弱易損樣品的表面活化
2. 13.56MHz高頻射頻發生器
3. 7英寸觸摸屏控制界面,全自動操作
4. 標配75W版本,可選150W版本
5. 標配2路氣體輸入,可選第三路氣體輸入
6. 可選與FEI、JEOL、HITACHI等TEM樣品桿配套的用適配器
7. AC輸入:通用(110~230V, 50/60Hz)
參數規格為去除SEM & TEM樣品的碳氫污染而設計。特有的雙清洗模式(immersion和downstream)能夠處理各種不同的樣品,從嚴重污染的電子光學孔徑光闌到各種脆弱易損樣品,如石墨烯、碳納米管、類金剛石碳膜以及多孔碳支持膜銅網上的TEM樣品。石英樣品托板上的孔洞可以安裝標準SEM樣品托。特別設計的適配器可以清潔不同廠家的TEM樣品桿。
特點:
1. 系統具有雙等離子源。浸入式等離子源用于主動表面處理、光刻膠蝕刻。遠程式等離子源用于溫和的污染清除以及脆弱易損樣品的表面活化
2. 13.56MHz高頻射頻發生器
3. 7英寸觸摸屏控制界面,全自動操作
4. 標配75W版本,可選150W版本
5. 標配2路氣體輸入,可選第三路氣體輸入
6. 可選與FEI、JEOL、HITACHI等TEM樣品桿配套的用適配器
7. AC輸入:通用(110~230V, 50/60Hz)
IDEA SCIENCE愛迪賽恩公司為您提供的解決方案
Evex憑借NanoAnalysis系統----完整的電子顯微鏡方案----引領顯微鏡的新時代。Evex NanoAnalysis系統由Evex Mini-SEM,Evex Mini-SEM,EvexQDD的探測器技術和Evex NanoAnalysis軟件組成。Mini-SEM是具有高清度,高放大率,高性能的臺式掃描電子顯微鏡。Mini-SEM結合了傳統SEM的性能,但在大小,價格和易操作方面超越了臺式顯微鏡。運用能量分散光譜(EDS/EDX)技術時,添加EvexQDD,無液氮高速X射線探測器和Evex X射線NanoAnalysis軟件(光譜采集模式,圖像采集模式和元素繪圖模式)到其中,可在幾秒內分析樣品的元素成分和描繪元素相關位置。
Evex將該系統設計成實用,易操作且購買得起的。幾秒鐘內從10X到30000X (120000X數字變焦)變焦。自動聚焦,亮度和對比度自動調整讓每張圖片都很。
Mini-SEM可用于醫療保健,儀器科學,法醫學,生命科學,材料科學,軍隊或教育領域。無論何種應用,Mini-SEM都是的工具。
Evex NanoAnalysis系統是確認一個樣品的元素成分的最有力的分析工具。將樣品插入測試室內,幾秒內就出現圖像。事先瀏覽整個圖像視野或在某一個特征上放大。點擊圖像中的一點,收集光譜開始。幾秒內通過元素成分確認物質。接下來,激活任一繪圖功能來確定元素的空間位置,通過使用任何以下繪圖模式來完成:點式,多點式,線掃描,區域繪圖,變焦繪圖,索引繪圖和痕量感光分析(T.S.A)的索引繪圖。
Evex NanoAnalysis系統的繪圖功能包括索引繪圖(用于圖像的每個像素的一段光譜)和T.S.A(痕量感光分析),后者能測定整個樣品中極微量的物質濃度。索引繪圖的最大優勢是它能保存整個實驗,因此你可以在任何工作地點的任何時候檢索原始數據。
Evex Mini-SEM技術參數 放大率: 30,000X(數字變焦4 -120,000X)加速功率: 1kv – 30kv探測器: SEI(標準),BEI/EDS(可選)圖像大小: 4096×4096圖像格式: JPG,TIFF,BMP,PNG數據顯示: Micron Bar, Magnificaiton, Date, Kv電壓: 110v或220v
無液氮高速X射線探測器
探測器窗口 SUTW UTW Be 檢測限 Be4/B5 C6 Na11 精度 128FWHM @ 5.9kev MN-Ka 1000cps 傳感器尺寸 10mm, 20mm, 30mm 冷卻 Peltier
A – Evex Mini-SEM (掃描電子顯微鏡)B – 電源開頭 & 樣品交換按鈕C – 真空標準Vacuum Level -D – 樣品交換Sample Exchange -- 樣品室大小 - 4x4x4- 樣品大小- 2x2x2- 樣品位置 (X,Y,R)E – 高速無液氮X射線探測器- 檢測元素范圍:4 - 92 $$$$ (Be - U) (SSUTW)- 檢測元素范圍:5 - 92 $$$ (B - U) (SUTW)- 檢測元素范圍:6 - 92 $$ (C - U) (UTW)- 檢測元素范圍:11 - 92 $ (Na - U) (TW)F - NanoAnalysis – 軟件G – 光譜采集組件 – 元素組成成分H – 圖像收集組件 – 圖像I – 射線探測器電源J – 元素繪圖
產品介紹:
這是一臺可以放在身邊的,簡單易用電子顯微鏡。可以獲得倍率較高、景深大的圖像。通過簡單的操作,即可達到觀察微觀世界的目的。利用背散射電子觀察圖像,不僅僅可以觀察形貌像,也可以觀察樣品的組成像。
特點:
1. 臺式設計,可快速測試樣品。
2. 像使用數碼相機一樣,操作簡單。
3. 可以對不導電樣品進行無噴涂觀察。
4. 性能介于光學顯微鏡與傳統掃描電鏡之間
放大倍率:20-10,000(×2,×4)
加速電壓:15KV
樣品移動范圍:X,Y:15mm
最大樣品厚度:20mm
檢測器:高靈敏度半導體背散射電子檢測器
自動圖象調整功能,BMP格式1280*960,640*480像素
數據顯示微標尺,微米值,日期時間,輸入注釋等